產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
D1型磁粉標(biāo)準(zhǔn)試片符合JB4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)，用于狹窄部位測(cè)試。是磁粉探傷必備的工具。該試片攜帶方便，操作簡(jiǎn)單。
詳情介紹：
D1型磁粉標(biāo)準(zhǔn)試片用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），及磁化方向，有效磁化范圍和大致的有效磁場(chǎng)強(qiáng)度?？疾焖捎玫奶絺に囈?guī)程。
規(guī)格：15/50、7/50、30/50
尺寸：10*10mm
厚度：50μm
D1型標(biāo)準(zhǔn)試片符合JB4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)，用于狹窄部位測(cè)試。是磁粉探傷必備的工具。該試片攜帶方便，操作簡(jiǎn)單。
其他規(guī)格的探傷試片有A1型、C1型、M1型。
規(guī)格：15/50、7/50、30/50
尺寸：10*10mm
厚度：50μm
D1型標(biāo)準(zhǔn)試片符合JB4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)，用于狹窄部位測(cè)試。是磁粉探傷必備的工具。該試片攜帶方便，操作簡(jiǎn)單。
其他規(guī)格的探傷試片有A1型、C1型、M1型。