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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀是一款外接探頭的涂層測(cè)厚儀，跟老款QNIX4200功能一樣，只是探頭是分體式設(shè)計(jì)。
詳情介紹：
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
只需調(diào)零、無(wú)需校準(zhǔn)
Fe探頭
分體化設(shè)計(jì)
自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)
技術(shù)參數(shù)：
技術(shù)參數(shù)：
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型 號(hào) |
4200 |
4200P |
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基 體 |
Fe |
Fe |
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探頭形式 |
一體 |
分體 |
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顯 示 |
LCD數(shù)字顯示 |
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測(cè)量范圍 |
Fe:0-3000μm Fe：0－5000μm |
Fe:0-3000μm Fe：0－5000μm |
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測(cè)量精度 |
0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3% |
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顯示精度 |
0－99μm：0.1μm，1000μm以上， |
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工作溫度 |
－10 － ＋ |
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溫度補(bǔ)償 |
0－ |
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*小基體 |
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*小曲率 |
凸、凹半徑： |
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*薄基體 |
Fe： |
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電 源 |
5號(hào)電池2節(jié) |
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重 量 |
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尺 寸 |
110×60× |
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